Fallo En El Tiempo (Fit)



Unidad para expresar la tasa de fallo esperada de semiconductores y otros dispositivos electrónicos. Un FIT equivale a un fallo por cada mil millones (109) de horas (una vez en unos 114.155 años) y se proyecta estadísticamente a partir de los resultados de los procedimientos de prueba acelerados.


Definición de Fallo En El Tiempo (Fit)

Término en inglés: Failure In Time (Fit)


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