Fallo En El Tiempo (Fit)
Unidad para expresar la tasa de fallo esperada de semiconductores y otros dispositivos electrónicos. Un FIT equivale a un fallo por cada mil millones (109) de horas (una vez en unos 114.155 años) y se proyecta estadísticamente a partir de los resultados de los procedimientos de prueba acelerados.
Definición de Fallo En El Tiempo (Fit)
Término en inglés: Failure In Time (Fit)
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